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Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes And Advanced Applications (Cód: 7605012)

Haugstad, Greg

John Wiley & Sons

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Descrição

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca John Wiley & Sons
Cód. Barras 9780470638828
Altura 24.40 cm
I.S.B.N. 9780470638828
Profundidade 3.10 cm
Referência .
Acabamento Capa dura
Número da edição 1
Ano da edição 2012
Idioma Inglês
País de Origem Estados Unidos
Número de Páginas 488
Peso 0.79 Kg
Largura 16.30 cm
AutorHaugstad, Greg

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