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Characterization of Semiconductor Materials, Volume 1 (Cód: 3052972)

Mcguire,Gary F.

William Andrew

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Descrição

Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca William Andrew
Cód. Barras 9780815512004
Altura 0.00 cm
I.S.B.N. 9780815512004
Profundidade 0.00 cm
Acabamento Capa dura
Sub-Título Principles and Methods
Número da edição 1
Ano da edição 31/12/1989
Idioma Inglês
Número de Páginas 342
Peso 0.44 Kg
Largura 0.00 cm
AutorMcguire,Gary F.

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