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CTL For Test Information Of Digital Ics (Cód: 6327203)

Rohit Kapur

SPRINGER VERLAG POD

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Descrição

From the reviews: '[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very
useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields.' Microelectronics Reliability

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca SPRINGER VERLAG POD
Cód. Barras 9781402072932
Altura 23.40 cm
I.S.B.N. 9781402072932
Profundidade 1.27 cm
Referência 9781402072932
Ano da edição 2002
Idioma Inglês
Número de Páginas 188
Peso 0.44 Kg
Largura 15.60 cm
AutorRohit Kapur

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