Artboard 33 Artboard 16 Artboard 18 Artboard 15 Artboard 21 Artboard 1 Artboard 2 Artboard 5 Artboard 45 Artboard 45 Artboard 22 Artboard 9 Artboard 23 Artboard 17? Artboard 28 Artboard 43 Artboard 49 Artboard 47 Artboard 38 Artboard 32 Artboard 8 Artboard 22 Artboard 5 Artboard 25 Artboard 1 Artboard 42 Artboard 11 Artboard 41 Artboard 13 Artboard 23 Artboard 10 Artboard 4 Artboard 9 Artboard 20 Artboard 6 Artboard 11 Artboard 7 Artboard 3 Artboard 3 Artboard 12 Artboard 25 Artboard 34 Artboard 39 Artboard 24 Artboard 13 Artboard 19 Artboard 7 Artboard 24 Artboard 31 Artboard 4 Artboard 14 Artboard 27 Artboard 30 Artboard 36 Artboard 44 Artboard 12 Artboard 17 Artboard 17 Artboard 6 Artboard 27 Artboard 19 Artboard 30 Artboard 29 Artboard 29 Artboard 26 Artboard 18 Artboard 2 Artboard 20 Artboard 35 Artboard 15 Artboard 14 Artboard 48 Artboard 50 Artboard 26 Artboard 16 Artboard 40 Artboard 21 Artboard 29 Artboard 10 Artboard 37 Artboard 3 Artboard 3 Artboard 46 Artboard 8

Effect Of Disorder And Defects In Ion-Implanted Semiconductors Optical And Photothermal Characterization - Vol. 46 (Cód: 1634363)

Christofid

Academic Press

Ooops! Este produto não está mais a venda.
Mas não se preocupe, temos uma versão atualizada para você.

Ooopss! Este produto está fora de linha, mas temos outras opções para você.
Veja nossas sugestões abaixo!

Economize até R$ 130,17

R$ 737,63 (-15%) em até 1x no crédito R$ 781,02 (-10%) no boleto
R$ 867,80 em até 10x de R$ 86,78 sem juros
Cartão Saraiva R$ 737,63 (-15%) em até 1x no cartão ou em até 15x de R$ 57,85 sem juros

Crédito:
Boleto:
Cartão Saraiva:

Total: R$0,00

Em até 10x sem juros de R$ 0,00


Effect Of Disorder And Defects In Ion-Implanted Semiconductors Optical And Photothermal Characterization - Vol. 46

R$867,80

Quer comprar em uma loja física? Veja a disponibilidade deste produto

Entregas internacionais: Consulte prazos e valores de entrega para regiões fora do Brasil na página do Carrinho.

ou receba na loja com frete grátis

X
Formas de envio Custo Entrega estimada

* Válido para compras efetuadas em dias úteis até às 15:00, horário de Brasília, com cartão de crédito e aprovadas na primeira tentativa.

X Consulte as lojas participantes

Saraiva MegaStore Shopping Eldorado Av. Rebouças, 3970 - 1º piso - Pinheiros CEP: 05402-600 - São Paulo - SP

Descrição

Defects in ion-implanted semiconductors are important and will likely gain increased importance as annealing temperatures are reduced with successive IC generations. Novel implant approaches, such as MdV implantation, create new types of defects whose origin and annealing characteristics will need to be addressed. Publications in this field mainly focus on the effects of ion implantation on the material and the modification in the implanted layer after high temperature annealing. The editors of this volume and Volume 45 focus on the physics of the annealing kinetics of the damaged layer. An overview of characterization tehniques and a critical comparison of the information on annealing kinetics is also presented.Key Features* Provides basic knowledge of ion implantation-induced defects* Focuses on physical mechanisms of defect annealing* Utilizes electrical, physical, and optical characterization tools for processed semiconductors* Provides the basis for understanding the problems caused by the defects generated by implantation and the means for their characterization and elimination.

Características

Peso 0.62 Kg
Produto sob encomenda Sim
Marca Academic Press
I.S.B.N. 9780127521466
Altura 22.90 cm
Largura 15.20 cm
Profundidade 1.97 cm
Número de Páginas 316
Idioma Inglês
Acabamento Capa dura
Cód. Barras 9780127521466
Ano da edição 22/5/1997
AutorChristofid