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Livro Digital

Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology - Theory, Algorithms, and Applications (Cód: 9293894)

Servin, Manuel; Moises Padilla; J. Antonio Quiroga

Wiley (Digital)

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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology - Theory, Algorithms, and Applications

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Descrição

The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology. A major novelty of this work is the presentation of a unified theoretical framework based on the Fourier description of phase shifting interferometry using the Frequency Transfer Function (FTF) along with the theory of Stochastic Process for the straightforward analysis and synthesis of phase shifting algorithms with desired properties such as spectral response, detuning and signal-to-noise robustness, harmonic rejection, etc.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca Wiley (Digital)
Cód. Barras 9783527681082
Início da Venda 30/12/2015
Territorialidade Internacional
Formato Livro Digital Pdf
Gratuito Não
Proteção Drm Sim
Número da edição 1
Idioma 337
Código do Formato Pdf
Número de Páginas 300 (aproximado)
Ano da Publicação 114
Peso 0.00 Kg
AutorServin, Manuel; Moises Padilla; J. Antonio Quiroga

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