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Hot-Carrier Reliability Of Mos VLSI Circuits (Cód: 6325365)

Yusuf Leblebici; Sung-Mo Kang; (Steve) Kang Sung-Mo (Steve) Kang

SPRINGER VERLAG POD

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Descrição

This volume addresses the issues related to hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits, ranging from device physics to circuit design guidelines. It presents a unified view of the physical mechanisms involved in
hot-carrier induced device degradation, the prevalent models for these mechanisms, and simulation methods for estimating hot-carrier effects in the circuit environment. The newly emerging approaches to the VLSI
design-for-reliability and rule-based reliability diagnosis are also discussed in detail. Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits is primarily for use by engineers and scientists who
study device and circuit-level reliability in VLSI systems and develop practical reliability measures and models. VLSI designers will benefit from this book since it offers a comprehensive overview of the interacting
mechanisms that influence hot-carrier reliability, and also provides useful guidelines for reliable VLSI design. This volume can be used as an advanced textbook or reference for a graduate-level course on VLSI reliability.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca SPRINGER VERLAG POD
Cód. Barras 9780792393528
Altura 23.40 cm
I.S.B.N. 9780792393528
Profundidade 1.43 cm
Referência 9780792393528
Ano da edição 1993
Idioma Inglês
Número de Páginas 236
Peso 0.45 Kg
Largura 15.60 cm
AutorYusuf Leblebici; Sung-Mo Kang; (Steve) Kang Sung-Mo (Steve) Kang

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