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Reliability And Failure Of Electronic Materials And Devices - 2nd Edition (Cód: 1632808)

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Academic Press

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Descrição

Description
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devicesis a well-established and well-regarded reference work offering unique, single-source coverage of most major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. With a focus on statistically predicting failure and product yields, this book can help the design engineer, manufacturing engineer, and quality control engineer all better understand the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects, and radiation damage. This new edition adds cutting-edge knowledge gained both in research labs and on the manufacturing floor, with new sections on plastics and other new packaging materials, new testing procedures, and new coverage of MEMS devices.Covers all major types of electronics materials degradation and their causes, including dielectric breakdown, hot-electron effects, electrostatic discharge, corrosion, and failure of contacts and solder jointsNew updated sections on "

Características

Peso 2.06 Kg
Produto sob encomenda Sim
Marca Academic Press
I.S.B.N. 9780120885749
Altura 22.90 cm
Largura 15.20 cm
Profundidade 4.72 cm
Número de Páginas 758
Idioma Inglês
Cód. Barras 9780120885749
Número da edição 2
Ano da edição 2014
MÊS OUTUBRO
AutorOhring