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Sem Microcharacterization of Semiconductors (Cód: 3050303)

"holt,D.; Joy, D."

Academic Press

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Descrição

Applications of SEM techniques of microcharacterization have proliferated to cover every type of material and virtually every branch of science and technology. This book emphasizes the fundamental physical principles. The first section deals with the foundation of microcharacterization in electron beam instruments and the second deals with the interpretation of the information obtained in the main operating modes of a scanning electron microscope.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca Academic Press
Cód. Barras 9780123538550
Altura 0.00 cm
I.S.B.N. 9780123538550
Profundidade 0.00 cm
Acabamento Capa dura
Número da edição 1
Ano da edição 28/1/1989
Idioma Inglês
Número de Páginas 452
Peso 0.44 Kg
Largura 0.00 cm
Autor"holt,D.; Joy, D."

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