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Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis And Related Methods 2nd Edition (Cód: 9237058)

Klockenkamper,Reinhold; Von Bohlen,Alex

John Wiley & Sons

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Descrição

Explores the uses of TXRF in micro- and trace analysis, and in surface- and near-surface-layer analysis

• Pinpoints new applications of TRXF in different fields of biology, biomonitoring, material and life sciences, medicine, toxicology, forensics, art history, and archaeometry;
• Updated and detailed sections on sample preparation taking into account nano- and picoliter techniques;
• Offers helpful tips on performing analyses, including sample preparations, and spectra recording and interpretation;
• Includes some 700 references for further study.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca John Wiley & Sons
Cód. Barras 9781118460276
Altura 23.62 cm
I.S.B.N. 9781118460276
Profundidade 3.56 cm
Referência 024806091
Acabamento Capa dura
Número da edição 2
Ano da edição 2015
MÊS JANEIRO
Idioma Inglês
Número de Páginas 552
Peso 0.90 Kg
Largura 16.26 cm
AutorKlockenkamper,Reinhold; Von Bohlen,Alex

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R$ 664,80
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