Frete Grátis
  • Google Plus

X-Ray Spectrometry In Electron Beam Instruments (Cód: 6325991)

Joseph Goldstein; Williams; David B. Williams

SPRINGER VERLAG POD

Ooopss! Este produto está temporariamente indisponível.
Mas não se preocupe, nós avisamos quando ele chegar.

Ooops! Este produto não está mais a venda.
Mas não se preocupe, temos uma versão atualizada para você.

Ooopss! Este produto está fora de linha, mas temos outras opções para você.
Veja nossas sugestões abaixo!

R$ 1.056,70 em até 10x de R$ 105,67 sem juros
Cartão Saraiva R$ 1.003,87 (-5%) em até 1x no cartão ou em até 12x de R$ 88,06 sem juros
Grátis

Cartão Saraiva

Descrição

This volume reviews current research in the field of X-ray spectrometry and its relationship to the practice of electron probe X-ray microanalysis.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca SPRINGER VERLAG POD
Cód. Barras 9780306448584
Altura 25.40 cm
I.S.B.N. 9780306448584
Profundidade 2.22 cm
Referência 9780306448584
Ano da edição 1995
Idioma Inglês
Número de Páginas 396
Peso 0.45 Kg
Largura 17.80 cm
Autor Joseph Goldstein; Williams; David B. Williams

Avaliações

Avaliação geral: 0

Você está revisando: X-Ray Spectrometry In Electron Beam Instruments