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Conductive Atomic Force Microscopy - Applications In Nanomaterials (Cód: 9957876)

LANZA,MARIO

Wiley-Vch

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Descrição

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
To provide a global perspective, the chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and cover novel strategies, configurations and setups where new information will be obtained with the help of CAFM.
With its substantial content and logical structure, this is a valuable reference for researchers working with CAFM or planning to use it in their own fields of research.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca Wiley-Vch
Cód. Barras 9783527340910
Altura 24.89 cm
I.S.B.N. 3527340912
Profundidade 2.29 cm
Referência 9783527340910
Acabamento Capa dura
Ano da edição 2017
Número de Páginas 384
Peso 1.07 Kg
Largura 17.27 cm
AutorLANZA,MARIO