Artboard 33atençãoArtboard 18atualizarconectividadeArtboard 42boletocarrinhocartãoArtboard 45cartão SaraivacelularArtboard 42Artboard 23checkArtboard 28Artboard 17?compararcompartilharcompartilhar ativoArtboard 28Artboard 43Artboard 49Artboard 47Artboard 15Artboard 32ebookArtboard 22Artboard 5Artboard 25Artboard 1Artboard 42Artboard 11fecharfilmesArtboard 23gamesArtboard 4Artboard 9Artboard 6hqimportadosinformáticaArtboard 7Artboard 3Artboard 12Artboard 25Artboard 34Artboard 43Artboard 44curtirArtboard 24Artboard 13livrosArtboard 24Artboard 31menumúsicaArtboard 27Artboard 30Artboard 36Artboard 44outrospapelariaArtboard 17Artboard 6Artboard 27Artboard 30Artboard 29Artboard 26Artboard 2Artboard 20Artboard 35estrelaestrela ativorelógiobuscaArtboard 50Artboard 26toda saraivaArtboard 40Artboard 21Artboard 10Artboard 37usuárioArtboard 46Artboard 33Artboard 8seta
e-book

Diffraction From Materials (Cód: 9580332)

L. H. Schwartz

ELSEVIER S&T

Ooops! Este produto não está mais a venda.
Mas não se preocupe, temos uma versão atualizada para você.

Ooopss! Este produto está fora de linha, mas temos outras opções para você.
Veja nossas sugestões abaixo!

R$ 212,60

em até 7x de R$ 30,37 sem juros

Total:

Em até 1x sem juros de


Crédito:
Boleto:
Cartão Saraiva:

Total:

Em até 7x sem juros de


Diffraction From Materials

R$212,60

Descrição

Diffraction from Materials provides the basic information concerning crystal symmetry, the kinematic scattering theory, as well as the physical properties of x-rays, electrons, and neurons. This book explores the crystalline nature of metals, semiconductors, and insulators.
Organized into eight chapters, this volume starts with an overview of the basic ideas associated with the arrangements of atoms in crystals to help readers understand why diffraction studies are useful in learning about crystals. This book considers the analytical and geometrical methods to represent the symmetry relationships for the atoms in crystals. Other chapters examine the production of radiation suitable for diffraction from materials. The final chapter examines the various techniques for x-ray topography, including the Schulz technique, the Guinier and Tennevin technique, and the Berg-Barret method.
This book is a valuable resource for electrical, civil, mechanical, and chemical engineers. This text will also be useful to materials scientists, chemists, biologists, and physicists.

Características

Produto sob encomenda Não
Marca ELSEVIER S&T
Cód. Barras 9780323145527
Acabamento e-book
Início da Venda 02/12/2012
Territorialidade Internacional
Formato Livro Digital Pdf
Gratuito Não
Tamanho do Arquivo 67295
Proteção Drm Sim
Idioma 337
Código do Formato Pdf
Número de Páginas 574 (aproximado)
Ano da Publicação 2012
Peso 0.00 Kg
AutorL. H. Schwartz