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Electrical Characterization Of Silicon-On-Insulator Materials And Devices (Cód: 6108699)

Sorin Cristoloveanu; Sheng Li

SPRINGER VERLAG POD

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Electrical Characterization Of Silicon-On-Insulator Materials And Devices

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Descrição

Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices describes a wide variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect
identification to detailed device evaluation. Each technique comes with pertinent technical information -- experimental set-up, basic models, parameter extraction -- that can be immediately useful to the reader.
Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices provides a comprehensive and accessible treatment of all aspects of the latest SOI technologies, including
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concepts. This book may also be used as a graduate level textbook for students who wish to learn more about the physics, applications, and electrical characterization of SOI devices.

Características

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Marca SPRINGER VERLAG POD
Cód. Barras 9780792395485
Altura 23.40 cm
I.S.B.N. 9780792395485
Profundidade 2.22 cm
Referência 9780792395485
Ano da edição 1995
Idioma Inglês
Número de Páginas 400
Peso 0.45 Kg
Largura 15.60 cm
AutorSorin Cristoloveanu; Sheng Li

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