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Identification Of Defects In Semiconductors - Vol. 51A (Cód: 1634365)

Stavola

Academic Press

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Descrição

Since its inception in 1966, the series of numbered volumes known as Semiconductors and Semimetals has distinguished itself through the careful selection of well-known authors, editors, and contributors.The'Willardson and Beer'Series, as it is widely known, has succeeded in publishing numerous landmark volumes and chapters. Not only did many of these volumes make an impact at the time of their publication, but they continue to be well-cited years after their original release. Recently, Professor Eicke R. Weber of the University of California at Berkeley joined as a co-editor of the series. Professor Weber, a well-known expert in the field of semiconductor materials, will further contribute to continuing the series' tradition of publishing timely, highly relevant, and long-impacting volumes. Some of the recent volumes, such as Hydrogen in Semiconductors, Imperfections in III/V Materials, Epitaxial Microstructures, High-Speed Heterostructure Devices,Oxygen in Silicon, and others promise indeed that this tradition will be maintained and even expanded.Reflecting the truly interdisciplinary nature of the field that the series covers, the volumes in Semiconductors and Semimetals have been and will continue to be of great interest to physicists, chemists, materials scientists, and device engineers in modern industry.

Características

Produto sob encomenda Não
Marca Academic Press
Cód. Barras 9780127521596
Altura 22.90 cm
I.S.B.N. 9780127521596
Profundidade 2.34 cm
Acabamento Capa dura
Ano da edição 26/5/1998
Idioma Inglês
Número de Páginas 376
Peso 0.80 Kg
Largura 15.20 cm
AutorStavola