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Reliability, Robustness And Failure Mechanisms Of Led Devices (Cód: 9395796)

Deshayes, Yannick; Bechou, Laurent

Iste Press - Elsevier

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Descrição

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation presents several methods to determine the reliability of infrared LEDs. The book focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations. The authors identify different parameters related to specific zones in components and then extract failure mechanisms based on measured performance before and after aging tests. The knowledge of failure mechanisms allows you to extract degradation laws related to a physics equation so an accurate lifetime distribution can then be proposed. Deals exclusively with reliability, based on the physics of failure for infrared LEDsIdentifies failure mechanisms, lifetime distribution, and selection of the best component for dedicated applicationsUses a complete methodology to reduce the number of samples needed to estimate lifetime distributionFocuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations'

Características

Produto sob encomenda Não
Marca Iste Press - Elsevier
Cód. Barras 9781785481529
Altura 21.00 cm
I.S.B.N. 9781785481529
Profundidade 1.00 cm
Referência 045325205
Acabamento Capa dura
Ano da edição 2016
Idioma Inglês
Peso 0.44 Kg
Largura 14.00 cm
AutorDeshayes, Yannick; Bechou, Laurent