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Theory Of Intense Beams Of Charged Particles - Vol. 166 (Cód: 3050922)

Hawkes,Peter

Academic Press

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Descrição

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physicsand Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.* Contributions from leading international scholars and industry experts * Discusses hot topic areas and presents current and future research trends * Invaluable reference and guide for physicists, engineers and mathematicians

Características

Peso 1.11 Kg
Produto sob encomenda Sim
Marca Academic Press
I.S.B.N. 9780123813107
Altura 22.90 cm
Largura 15.20 cm
Profundidade 4.68 cm
Número de Páginas 408
Idioma Inglês
Acabamento Capa dura
Sub-Título Optics of Charged Particle Analyzers
Cód. Barras 9780123813107
Número da edição 1
Ano da edição 1/2/2011
AutorHawkes,Peter