Artboard 33 Artboard 16 Artboard 18 Artboard 15 Artboard 21 Artboard 1 Artboard 2 Artboard 5 Artboard 45 Artboard 45 Artboard 22 Artboard 9 Artboard 23 Artboard 17? Artboard 28 Artboard 43 Artboard 49 Artboard 47 Artboard 38 Artboard 32 Artboard 8 Artboard 22 Artboard 5 Artboard 25 Artboard 1 Artboard 42 Artboard 11 Artboard 41 Artboard 13 Artboard 23 Artboard 10 Artboard 4 Artboard 9 Artboard 20 Artboard 6 Artboard 11 Artboard 7 Artboard 3 Artboard 3 Artboard 12 Artboard 25 Artboard 34 Artboard 39 Artboard 24 Artboard 13 Artboard 19 Artboard 7 Artboard 24 Artboard 31 Artboard 4 Artboard 14 Artboard 27 Artboard 30 Artboard 36 Artboard 44 Artboard 12 Artboard 17 Artboard 17 Artboard 6 Artboard 27 Artboard 19 Artboard 30 Artboard 29 Artboard 29 Artboard 26 Artboard 18 Artboard 2 Artboard 20 Artboard 35 Artboard 15 Artboard 14 Artboard 48 Artboard 50 Artboard 26 Artboard 16 Artboard 40 Artboard 21 Artboard 29 Artboard 10 Artboard 37 Artboard 3 Artboard 3 Artboard 46 Artboard 8

Yield And Variability Optimization Of Integrated Circuits (Cód: 6326939)

Jian Cheng Zhang; M.A. Styblinski

SPRINGER VERLAG POD

Ooopss! Este produto está temporariamente indisponível.
Mas não se preocupe, nós avisamos quando ele chegar.

Ooops! Este produto não está mais a venda.
Mas não se preocupe, temos uma versão atualizada para você.

Ooopss! Este produto está fora de linha, mas temos outras opções para você.
Veja nossas sugestões abaixo!

R$ 788,70 em até 10x de R$ 78,87 sem juros
Cartão Saraiva R$ 749,27 (-5%) em até 1x no cartão ou em até 15x de R$ 52,58 sem juros

Crédito:
Boleto:
Cartão Saraiva:

Total: R$0,00

Em até 10x sem juros de R$ 0,00


Yield And Variability Optimization Of Integrated Circuits

R$788,70

Descrição

Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the most important issues of IC
statistical design and the relevant mathematical framework. It describes a spectrum of different statistical circuit design problems, such as parametric yield optimization, generalized on-target design, variability
minimization, performance tuning, and worst-case design. It also covers such topics as device statistical and worst-case modeling, design of experiments and factor screening, together with some basic tenets of fuzzy set
theory and multi-objective statistical optimization. Several practical examples are used to familiarize the reader with the concepts, and demonstrate the applicability of various statistical circuit design methodologies.
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits is intended as introductory reference material for various groups of IC designers, and the methodologies described provide an
understanding of the complex problems of statistical circuit design, thus helping to enhance the overall quality of the ICs delivered to the customers.

Características

Produto sob encomenda Sim
Marca SPRINGER VERLAG POD
Cód. Barras 9780792395515
Altura 23.40 cm
I.S.B.N. 9780792395515
Profundidade 1.59 cm
Referência 9780792395515
Ano da edição 1995
Idioma Inglês
Número de Páginas 260
Peso 0.45 Kg
Largura 15.60 cm
Autor Jian Cheng Zhang; M.A. Styblinski

Avaliações

Avaliação geral: 0

Você está revisando: Yield And Variability Optimization Of Integrated Circuits